半导体元器件失效分析技术与案例解析
失效分析是对已失效器件进行的一种事后检查，根据需要，使用电测试以及许多先进的物理、金相和化学的分析技术，以验证所报告的失效，确定失效模式，找出失效机理。
emmi
半导体微光显微镜（EMMI）设备市场调研报告
微光显微镜（Emission Microscope，简称EMMI）是一种用于半导体失效分析的高效非破坏性检测工具，其主要功能是侦测集成电路内部缺陷产生的微弱光子发射信号。随着半导体工艺节点不断缩小（
铸造法 β-Ga₂O₃ (100) 面缺陷的电子特性：现象与机理
本研究得到以下项目的支持：中国国家重点研发计划（2024YFE0205300）、浙江省“尖兵”“领雁”研发攻关计划（2023C01193）、国家自然科学基金（22205203）、浙江省自然科学基金（LZ25E070001）、国家高层次青年人才支持计划，以及杭州